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  • Direct chemical in-depth profile analysis and thickness quantification of nanometer multilayers using pulsed-rf-GD-TOFMS [2010]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Agnès Tempez , Rebeca Valledor González , Carlos Quirós Fernández , Nerea Bordel García , José Ignacio Martín Carbajo , Jorge Pisonero Castro , Alfredo Sanz Medel
    Fecha:
    01 de Enero de 2010
    Es parte de:
    Analytical and Bioanalytical Chemistry