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  • Characterization of Doped Amorphous Silicon Thin Films through the Investigation of Dopant Elements by Glow Discharge Spectrometry. A Correlation of Conductivity and Bandgap Energy Measurements [2011]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    José Luis Menéndez Río , Armando Menéndez Estrada , María Rosario Pereiro García , Olaya Lorenzo , Pascal Sánchez , Beatriz Fernández García , David Gómez Plaza
    Fecha:
    01 de Enero de 2011
    Es parte de:
    International Journal of Molecular Sciences